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SN74BCT8374ADWRE4相关型号
TI德州仪器热销型号

图片仅供参考，请参考产品描述

  • SN74BCT8374ADWRE4

  • 制造商：Texas Instruments
  • 批号：19+
  • 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  • PDF下载：pdf下载
  • 库存数量：2000+

优势价格，SN74BCT8374ADWRE4的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货可发货。

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详细参数

  • 包装标准卷带
  • 系列74BCT
  • 零件状态停產
  • 逻辑类型扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器
  • 电源电压4.5V ~ 5.5V
  • 位数8
  • 工作温度0°C ~ 70°C
  • 安装类型表面贴装型
  • 封装/外壳24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）
  • 供应商器件封装24-SOIC

其它信息

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